學術中心
教育訓練課程
> 積體電路測試技術與策略
> 積體電路測試技術設計
> 液晶顯示驅動原理與積體電路測試
>混合訊號測試與數位訊號處理測試法
> 混合訊號測試技術設計
> 高速數位傳輸介面IC測試
> 微波原理與射頻元件測試
> SDRAM測試實務精要
> 測試載板技術精要
> 探針卡技術精要
> Close-loop EDA-linked testing pattern
積體電路測試技術與策略：
課程目標：
了解積體電路特性及量測原理、測試機台，以期對積體電路測試技術有基礎的了解。
課程大綱：
1.
Philosophy of VLSI Testing
2.
ATE and Testing Principle
3.
Device and Device Testing
4.
Specification and Testing
5.
Design For Testability (option)
上課時數
：
12 小時
@2008-2010 積 智 科 技 股 份 有 限 公 司.
BEST-itech 電話:+886-7-550-8880 傳真:+886-7-550-8890
